昆山海德纳工业设备有限公司认为 随着计算机技术、数控技术、光电技术以及检测传感技术的发展，计算机辅助检测技术的发展呈现出日新月异的特点。从大的趋势上来说，计算机辅助检测技术的发展日益走向精度高精密化、功能复合化、机器大型化和微型化、检测速度快、以及与加工机床日益融合化等。

         1、高精度化， 随着市场竞争的日益激烈，产品质量的要求越来越高，这就要求机械加工精度和检测设备的精度日益提高，目前出现的纳米测量机就是这一发展的体现。 昆山海德纳工业设备有限公司称纵观纳米测量技术发展的历程，它的研究主要向两个方向发展：一是在传统的测量方法基础上，应用先进的测试仪器解决应用物理和微细加工中的纳米测量问题,分析各种测试技术,提出改进的措施或新的测试方法。 二是发展建立在新概念基础上的测量技术，利用微观物理、量子物理中新的研究成果,将其应用于测量系统中,它将成为未来纳米测量的发展趋向。

         2、功能复合化，计算机辅助检测技术发展的第二个特点是功能复合化。昆山海德纳工业设备有限公司指出目前的三坐标测量机越来越多的具有两种以上的复合测量功能，如接触式测量与激光测量的复合，或接触式测量与影像测量的复合，甚至还有这三种功能的复合等。 功能复合化是为了满足多种测量需要而产生的。在实际检测或逆向工作中，根据零件几何形状的复杂程度和特点，有时需要采用不同的测量手段进行测量，以获得较好的测量结果。比如，对于普通曲面形状，激光扫描的点采集速度就很快，效率很高。而对于需要进行精确定位的检测来说，接触式测量则有其高精度、准确性好的特点。